產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚QE-2000熒光量子效率測試系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介
QE-2000熒光量子效率測試系統(tǒng)瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域 的雜散光。
產(chǎn)品分類
QE-2000熒光量子效率測試系統(tǒng)
QE-2000瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域 的雜散光。另采用了積分半球unit，實現(xiàn)了明亮的光學(xué)系的同時，運用其再激發(fā)熒光補正的優(yōu)點，可進(jìn)行高精度的測量。
高精度測量（zhuan.利：5150939號）：使用低雜散光光譜儀MCPD系列
多次激發(fā)補正（zhuan：3287775號、4631080號）：大.程度降低樣品所反射的激發(fā)光再次照射樣品帶來的多次激發(fā), 對粉末和固體測試精度提高明顯
使用積分半球（zhuan：4216314號）：是普通積分球測試效率的2倍，更易于樣品的裝夾，更換簡單
多種樣品都能對應(yīng)：粉體、溶液、薄膜、固體等等
可添加溫控系統(tǒng)：-30~300℃
QE-2000熒光量子效率測試系統(tǒng)
型號 | 3683C | 311C | 2580C | 3095C | ||||
波長范圍 | 360-830nm | 360-1100nm | 250-800nm | 300-950nm | ||||
像元波長寬度 | 1.0nm | 0.5nm | 1.6nm | 0.8nm | 1.2nm | 0.6nm | 1.4nm | 0.7nm |
像元數(shù) | 512 | 1024 | 512 | 1024 | 512 | 1024 | 512 | 1024 |
CCD | 電子冷卻式CCD圖像傳感器 | |||||||
AD轉(zhuǎn)換精度 | 16 bit | |||||||
單色器配置 | F/#=3, f=85.8mm | |||||||
光源 | 150W氙燈 | |||||||
激發(fā)波長 | 250-800nm | |||||||
帶寬 | FWHM 5nm/slit 0.6mm | |||||||
樣品抗光裝置 | 自動關(guān)閉裝置 | |||||||
激發(fā)波長控制 | 自動控制 | |||||||
積分球材質(zhì) | Spectralon（美國Labsphere公司zhuan.利材料名） | |||||||
尺寸 | 150mm 半球 | |||||||
粉末測試樣 品座 | SU304 | |||||||
溶液樣品池 | 石英制溶液比色皿 | |||||||
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
相關(guān)文章
上一個：
返回列表